Vol.13は、スコップ管理の質量分析計の紹介と質量分析時の注意事項の紹介です。
Vol.12は、走査電子顕微鏡（FE-SEM, 日本電子㈱製JSM-7100F）の紹介と観察事例の紹介です。
Vol.11は、X線光電子分光装置（XPS）での有機ＥＬ薄膜測定の紹介です。
Vol.10は、昨年、遺伝子実験施設に設置しました透過電子顕微鏡（日本電子㈱製、JEM-1400 Flash）の機能紹介です。
Vol.9は、X線光電子分光装置（XPS、JPS-9030）に新たに装着したアタッチメント（中和銃、制限視野アパーチャー）の紹介です。