Vol.41号は論文執筆等でのＸＰＳ測定条件の記述法の解説です。ご参考にしてみて下さい。またこれ以外の測定条件、解析に関しての記述法にお困りでしたら、下記までご連絡お願い致します。
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Vol.40号はラマン分光法による材料の応力分布測定（シリコンウエハ）例の紹介です。
ラマン分光法は材料の化学状態の分析だけでなく、今回示すように材料の応力測定も可能です。

Vol.39はXPSの定量分析法の解説です。
XPSでの定量分析はどの様なパラメータを用いて実施するのかを解説しています。

Vol.38は、顕微ラマン分光装置の測定に関してのヒント（蛍光の回避・試料ダメージ軽減等）です。

ニュースレターVol.37は走査電子顕微鏡（FE-SEM）によるゼオライトの観察例です。
ゼオライト観察時の参考にしてみて下さい。
また、FE-SEMの観察時のご相談などありましたら、スコップ担当者までご連絡お願い致します。
皆様のご利用お待ちしています。

スコップNews Letter Vol.36はXPS装置搭載Arイオン銃による深さ方向分析時の深さ分解能の測定結果です。深さ分解能はイオンスパッタエッチングで測定される深さ方向プロファイルの界面を正確に求める際に重要となるファクターです。搭載Arイオン銃はスパッタエッチング時の材料表面の荒れが少なく、均一にエッチングすることから、界面情報を正確に求めることができます。

スコップNews Letter Vol.35はXPS装置搭載Arイオン銃の紹介です。搭載Arイオン銃は数10nm～数100nm以上までの深さ方向分析を可能とするイオン銃です。
XPSにて深さ方向分析を実施したい方はご連絡お願い致します。

スコップNews Letter Vol.34は9月27日に開催しました第1回CLEM法ワークショップの報告と、山梨大学医学部でのスコップ関係者の研修報告です。
今後ともスコップへのご支援、よろしくお願い致します。