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学外者利用可能設備一覧

X線マイクロアナライザー

概要

設備名称 X線マイクロアナライザー
設置場所 機器分析施設  (小金井キャンパス)
型式 日本電子(株)  JXA-8900M
概要 【設備名】X線マイクロアナライザー(電子プローブマイクロアナライザー)

【設備の特徴】細く絞った電子線を試料表面に照射し、試料から放出される元素固有の特性X線を検出することにより、試料中の元素の定性・定量分析する装置。
電子線の集束・走査を行う電子光学系は走査電子顕微鏡と同じであるため、分析部の高倍率観察や、試料表面での元素の二次元分布(マッピング)が測定可能。

【主な用途】鉄鋼、鉱物、セラミックス、繊維、歯科材料、医学、生物など非常に広範囲な基礎研究や応用研究、および品質管理に使用。

【基本仕様】
  加速電圧:0.2~40kV
  照射電流範囲:10-12~10-5A
  二次電子像分解能:6nm(WD11mm@35kV)
  反射電子像、凹凸像、組成像
  最大試料サイズ:100mm×100mm×20mmH
  分析領域:80mm×80mm
  X線分光器:波長分散型X線分光器(WD)3基
  分析元素範囲:B~U
  エネルギー分散型X線分光器:1基

【注意事項】揮発性のある試料は測定できません

利用・予約方法

利用・予約方法 ネットワーク予約
備考欄 大学連携ネットワーク利用者以外の方は、設備管理者また本学 学術研究支援総合センター 設備サポート室まで直接、メールでお問い合わせください。

料金

利用料金 500円/回 1回当りの使用時間は30分
トレーニング料金 Max 1,400円/時間

管理者情報

管理者 櫻井 誠
メールアドレス sakuraimcc.tuat.ac.jp (迷惑メール防止のため「@」が画像になっております。)
URL

管理者研究紹介

研究紹介URL http://kenkyu-web.tuat.ac.jp/Profiles/1/0000063/profile.html