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学外者利用可能設備一覧

光干渉断層顕微システム 

概要

設備名称 光干渉断層顕微システム 
設置場所 13号館604-606室 (小金井キャンパス)
型式 santec株式会社 IVS-2000
概要 【設備の特徴】サンプル試料の非破壊的な断層観察

【主な用途】生体イメージング
      高分解能皮膚イメージング
      産業用試料の高分解能イメージング

【基本仕様】中心波長:1.31μm

利用制限(サンプルの種類、操作上の制限など):解像度10マイクロメーターまで、金属サンプル不適

利用・予約方法

利用・予約方法 ネットワーク予約
備考欄

料金

利用料金 1,500円/時間
トレーニング料金 Max1,400円/時間

管理者情報

管理者 寺田 昭彦
メールアドレス aktecc.tuat.ac.jp (迷惑メール防止のため「@」が画像になっております。)
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