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学外者利用可能設備一覧

質量分析装置(低分解能)

概要

設備名称 質量分析装置(低分解能)
設置場所 機器分析施設 (小金井キャンパス) (小金井キャンパス)
型式 日本電子 JMS-700D
概要 設備の特徴(何をする設備or何ができる設備):低分解能測定から精密質量測定までの汎用目的に使用可能な仕様となっている。イオン化には電子イオン化法(EI法)と高速原子衝撃法(FAB法)の2種が利用可能であり、EI法では分子量が900前後まで、FAB法では分子量3000前後までの試料であれば測定可能である。

設備メーカー名/機種番号:日本電子 JMS-700D

仕様:本装置は、試料導入部、導入した試料をイオン化するイオン化部、イオンを加速し、質量(質量電荷比)の違いにより分離する分析部、分離したイオンを検出する検出部、測定の制御とデータ処理を行う制御・データ処理部から構成されている。試料の導入は直接導入の他、オートサンプラ付きのガスクロマトグラフィーを通じた導入が可能であり、イオン化には、EI法とFAB法が適用可能である。分析部は、磁場部が前方に、電場部が後方に配置した二重収束型であり、イオンの検出には、二次電子増倍管が用いられている。制御・データ処理用には、専用のパソコンが設置されている。

利用制限(サンプルの種類、操作上の制限など):EI法では分子量が900前後まで、FAB法では分子量3000前後までの試料であれば測定可能である。

利用・予約方法

利用・予約方法 ネットワーク予約
備考欄 初めて装置を利用される方は、機器管理担当までご連絡下さい。同種の装置の利用経験に応じて、講習を行います。

料金

利用料金 10,300円/日
トレーニング料金

管理者情報

管理者 野口恵一
メールアドレス knoguchicc.tuat.ac.jp (迷惑メール防止のため「@」が画像になっております。)
URL

管理者研究紹介

研究紹介URL http://kenkyu-web.tuat.ac.jp/Profiles/3/0000234/profile.html